時(shí)序及噪音分析培訓(xùn)班 |
入學(xué)要求 |
學(xué)員學(xué)習(xí)本課程應(yīng)具備下列基礎(chǔ)知識(shí):
◆ 電路系統(tǒng)的基本概念。 |
班級(jí)規(guī)模及環(huán)境--熱線:4008699035 手機(jī):15921673576/13918613812( 微信同號(hào)) |
為了保證培訓(xùn)效果,增加互動(dòng)環(huán)節(jié),我們堅(jiān)持小班授課,每期報(bào)名人數(shù)限3到5人,多余人員安排到下一期進(jìn)行。 |
上課時(shí)間和地點(diǎn) |
上課地點(diǎn):【上海】:同濟(jì)大學(xué)(滬西)/新城金郡商務(wù)樓(11號(hào)線白銀路站) 【深圳分部】:電影大廈(地鐵一號(hào)線大劇院站)/深圳大學(xué)成教院 【北京分部】:北京中山/福鑫大樓 【南京分部】:金港大廈(和燕路) 【武漢分部】:佳源大廈(高新二路) 【成都分部】:領(lǐng)館區(qū)1號(hào)(中和大道) 【沈陽分部】:沈陽理工大學(xué)/六宅臻品 【鄭州分部】:鄭州大學(xué)/錦華大廈 【石家莊分部】:河北科技大學(xué)/瑞景大廈 【廣州分部】:廣糧大廈 【西安分部】:協(xié)同大廈
近開課時(shí)間(周末班/連續(xù)班/晚班): 時(shí)序及噪音分析培訓(xùn)班:2025年6月9日........--即將開課--............................ |
實(shí)驗(yàn)設(shè)備 |
☆資深工程師授課
◆外地學(xué)員:代理安排食宿(需提前預(yù)定)
☆注重質(zhì)量
☆邊講邊練
☆合格學(xué)員免費(fèi)推薦工作
專注高端培訓(xùn)17年,曙海提供的課程得到本行業(yè)的廣泛認(rèn)可,學(xué)員的能力
得到大家的認(rèn)同,受到用人單位的廣泛贊譽(yù)。
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曙 海 新 優(yōu) 惠 |
◆在讀學(xué)生憑學(xué)生證,可優(yōu)惠500元。 |
.質(zhì).量.保.障. |
1、培訓(xùn)過程中,如有部分內(nèi)容理解不透或消化不好,可免費(fèi)在以后培訓(xùn)班中重聽;
2、培訓(xùn)結(jié)束后免費(fèi)提供半年的技術(shù)支持,充分保證培訓(xùn)后出效果;
3、培訓(xùn)合格學(xué)員可享受免費(fèi)推薦就業(yè)機(jī)會(huì)。 。專注高端培訓(xùn)17年,曙海提供的課程得到本行業(yè)的廣泛認(rèn)可,學(xué)員的能力得到大家的認(rèn)同,受到用人單位的廣泛贊譽(yù)。 |
時(shí)序及噪音分析培訓(xùn)班 |
1. MOS models
1.1 MOS basics
1.2 MOS I-V characteristics
1.3 Interconnect models
1.4 Scaling trends
2. Delay computation
2.1 Cell libraries
2.2 Effective capacitance
2.3 Interconnect delay
2.4 Cell model limitations
3. Static timing analysis
3.1 Topological analysis
3.2 Path enumeration
3.3 BFS vs DFS
3.4 Timing exception
3.5 Clock skew
3.6 Logic analysis
3.7 False path
4. Crosstalk timing analysis
4.1 Spice based models
4.2 Current based models
4.3 Noisy delay computation
4.4 Waveform effects
4.5 Timing window
4.6 Aggressor alignment
4.7 False coupling
5. Process variation
5.1 Process models
5.2 Chip-to-chip variation
5.3 Within chip variation
5.4 Process corners
6. Statistical timing analysis
6.1 Statistical timing analysis vs. static timing analysis
6.2 Method and implementation
6.3 Pron. & Cron.
7. Noise models
7.1 Coupling noise
7.2 Charge sharing
7.3 Leakage
7.4 Power supply noise
8. Static noise analysis
8.1 Noise computation
8.2 Noise immunity
8.3 Noise propagation
8.4 Multiple input noise
8.5 Simultaneous input/output noise
8.6 Noise window
8.7 Probabilistic analysis
9. Silicon timing/noise issues
9.1 Chip failure examples
9.2 Work-out methods to fix problems
10. 10. Signoff methodologies
10.1 Timing/noise signoff flow
10.2 Hierarchical analysis
10.3 Block timing models
10.4 Block noise models
10.5 Tool integration |